株式会社多聞は、30年以上にわたり様々なものを「測り」続けてきました。シリコンウェーハの厚さ測定を中心に、お客様の要望に応えるカスタマイズ測定システムを提供しています。
設立以来、様々な測定課題に対応してきた豊富な経験と実績があります。
お客様の生産環境に合わせた通信仕様や測定条件のカスタマイズに対応します。
光学式センサーによる高精度な測定で、製品の品質向上に貢献します。
光学式測定システムを中心に、お客様の測定ニーズに応える製品を提供しています。
非接触・非破壊の光学式厚さ測定システム
波長可変レーザ厚さ測定システム
1m以上離れた対象をリアルタイムに測定。生産ラインへの組み込みに最適。
白色光源厚さ測定システム
コンパクトで近距離測定に最適。卓上・携帯測定にも対応。
ハイパースペクトルカメラ厚さ測定システム
サンプル全体の厚さ面内分布を測定。SOIウェーハ出荷検査に導入実績。
分光測定・検査装置向け光源ユニット
光源ユニット
手のひらサイズの筐体に高性能LEDと制御基板を搭載。低発熱で安定した光源。
光学測定をさらに高度化する解析ソフトウェア
分光ピーク・半値幅（FWHM）解析ソフトウェア
USB接続分光器向けの専門解析ソフト。リアルタイムFWHM算出・複数ピーク自動検出に対応。
デモ機の貸し出しや測定サンプルのお預かりも対応しています。